基础练习 芯片测试
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问题描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本 身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路：好芯片测试结果是正确的，坏芯片可能是正确可能是错误的；另外好芯片比坏芯片要多。这里i==j时一律为1，举个例子3个好的，2个坏的，那好的芯片得到的1一定是大于等于3的，而坏芯片得到的1一定是小于等于2的，即如果是n个芯片，那么得到1的个数*2大于n的话就是好芯片。
#include<iostream> using namespace std; const int N = 25; int a[N][N]; int n; int main() { cin>>n; for(int i=1;i<=n;++i){ for(int j=1;j<=n;++j){ cin>>a[i][j]; } } for(int i=1;i<=n;++i){//从小到大枚举每一个芯片 int x=0; for(int j=1;j<=n;++j){//计算得到1的个数 if(a[j][i]==1)x++; } if(x*2>n)cout<<i<<" "; } return 0; }